日本东芝GOS探测器用陶瓷闪烁体

日本东芝GOS探测器用陶瓷闪烁体

日本东芝GOS陶瓷闪烁体CT机用探测器模组gos闪烁体

陶瓷闪烁体

本公司开发高感度陶瓷闪烁体，适用于非破坏检查装置、医疗器械等检查装置。根据用途，可制成各种形状、式样，欢迎咨询。
◎发光材料可加工符合光电二极管的元件尺寸（0.4mm）的产品。
◎形状、尺寸都可以控制，厚度能做到0.2mm以上。

特长
可加工符合发光材料尺寸的产品，且光不会散射。

1次元类型（一个方向排列的类型） 2次元类型（XY方向排列的类型）


陶瓷闪烁体的特性1
品种 TOSHIBA
陶瓷闪烁体 其他材料的闪烁体
材料 Gd2O2S:Pr CdWO4 CsI:Tl
形态 多结晶 单结晶 单结晶
大发光波长［nm］ 512 480 550
相对光输出率［-］ 2 1 1.8
残光［μs］ 3 5 1
余晖3ms后［%］ <0.1 <0.1 1.5
透明性 半透明 透明 透明
密度 7.34 7.99 4.53
感度的温度变化 -0.1%/℃ -0.2%/℃ —
环境安全性 ○ 有害C 有环境基准Tl
耐湿性 ○ ○ 有潮湿性

◎是一种感度高、残光短、余晖短的闪烁体。
◎不含有害物质，有利环境保护。
◎耐湿性优良。
◎对发光材料的X线阻止性能高。
◎其他的残光、余晖特性较差，但具备对绿光和红光高感度的闪烁体。

陶瓷闪烁体的特性2
TOSHIBA 输出率
［相对值］ 余晖［%］ 残光
［μs］ 发光峰值
10ms 30ms 100ms 光谱［nm］
GOS1 2 0.08 0.02 0.01 3 512
GOS2 2 0.008 0.005 0.002 3 512
◎2mm厚的板状闪烁体比较 ◎由本司测定 ◎光输入率是1单位CdWO4的值
GOS1：，适用于非破坏装置的产品。
GOS2：适用于高速扫描重视余晖的产品。

各种特性 数据
曲折率 2.2［-] （512nm）
光透过率 35[%] （厚1mm）
放射线劣化 1.0[%] （7Gy≒800R）
线膨胀系数 8.8×10-6[/℃] （23～385℃）

荧光材料是可将光、电子、放射线等照在其表面上的光迅速地反射的物质。
提供以显像管（阴极射线管）和荧光灯用的荧光材料技术为基础，用于工业、医疗、携带式电子器械等方面的闪烁器、增感纸、荧光板等产品。</a>